胼胝體發育不良的診斷標準

胼胝體發育不良是兒童常見的疾病， 患上這種疾病以後兒童的智力和身體的發育都會受到限制， 患者的大腦和小腦會出現異常， 孩子在出生的時候就會有一些病發， 所以這種疾病的治療一定要趁早， 儘量減少發育不良的後果， 接下來我們就為大家介紹一下胼胝體發育不良的診斷標準。

CT檢查

典型有些嚴重的胼胝體發育不全， CT診斷不難， 但對輕度或中度發育不良， 有時由於層厚有些厚或間隔過大， 橫軸位元掃描， 易於漏診。 對有神經運動和智力障礙， 疑有胼胝體發育不全者， 掃描時應在Ⅲ室和側室水準將層厚減薄到3-5mm連續掃描。 有些大的兒童或成年亦可用8-10mm層厚， 但如有懷疑， 仍需減薄到3-5mm。 冠狀位有利於判斷Ⅲ室的位置。 重建或直接矢狀位元， 更易顯示胼胝體全貌， 一般不用增強掃描， 但可提供另外有用資訊。

CT表現

典型的駢眠體發育不全的CT表現如下：①大腦縱裂增寬與第三腦室前部相連。

②雙側側腦室擴大、分離。 ③第三腦室擴大上升位於側腦室之間。 ④室間孔不同程度的擴大和分離。 其中①為最常見和最可靠的直接徵象， ②、③和④為間接徵象。

雙側腦室分離， 第三腦室擴大、上升、介於雙側腦室之間， 形似蝙幅翼狀。

胚胎發育的生理性腦積水， 隨著腦組織生長腦室逐漸變小， 當腦組織生長局部或普遍性受損害時， 則導致局部或普遍性腦室擴大。 胼胝體大多發育不良， 引起枕角不成比例的明顯擴大。 腦回呈放射樣排列的大腦半球側面， 神經組織招疊， 阻止了雙側腦室的靠近， 使腦室分離， 過量的腦組織形成多小腦回或側腦室內側面， 尤其是靠近額角， 腦組織的距離減少。

使腦室分離， 尤其是額角前部變窄， 如臨近白質發育不良， 導致額角呈莖樣， 正常駢服體纖維呈水準狀排列， 胼胝體發育不全時， 呈縱向排列， 所以側腦室內緣光滑， 大致呈雙互平行走向。 由於胼胝體外側束的壓跡可使側腦室內緣凹陷。 異位元神經組織聚集， 阻止了放射狀纖維遷移， 使腦室外側壁不規則。 間腦發育不良導致Ⅲ室擴大和上升。 神經組織， 主要是白質發育不良， 引起大腦半球縱裂增寬。

上面的這些介紹就是關於胼胝體發育不良的CT檢查和診斷標準， CT檢查是比較專業的檢查方式， 如果孩子出現發育異常的情況， 家長們一定要帶孩子做一次檢查， 但是確診了大家也不要絕望， 現在治療胼胝體發育不良的辦法很多，

痊癒的幾率很高。